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顆粒測(cè)試基本知識(shí)百問(wèn)百答之十六重復(fù)性及誤差的計(jì)算方法

更新時(shí)間:2017-05-19      點(diǎn)擊次數(shù):3401

  在相同測(cè)量條件下對(duì)同一被測(cè)樣品連續(xù)多次測(cè)量所得結(jié)果之間的偏差叫重復(fù)性。重復(fù)性條件包括以下幾個(gè)方面:相同的測(cè)量流程,相同的操作者,在相同的條件,在相同的地點(diǎn),使用相同的儀器,在短時(shí)間內(nèi)多次測(cè)量。重復(fù)性是衡量粒度儀器和粒度測(cè)試方法穩(wěn)定性的主要指標(biāo)。重復(fù)性誤差的計(jì)算方法如下:

   ISO13320 規(guī)定激光粒度儀重復(fù)性允許偏差:D10 ≤ 5%、D90 ≤ 5%,D50 ≤ 3%, 如果它們的數(shù)值小于10μm,誤差可放大一倍。

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